Список статей

Выпуск Название Файл
Том 53, № 1 (2024) Анализ неоднородностей DpHEMT-структуры на основе GaAs/In0.53Ga0.47As после нейтронного воздействия
Голиков О.Л., Кодочигов Н.Е., Оболенский С.В., Пузанов А.С., Тарасова Е.А., Хазанова C.В.
Том 52, № 6 (2023) Биполярный транзистор с оптической накачкой
Альтудов Ю.К., Гаев Д.С., Псху А.В., Рехвиашвили С.Ш.
Том 52, № 3 (2023) Быстрый электрохимический микронасос для портативного модуля доставки лекарств
Уваров И.В., Шлепаков П.С., Абрамычев А.М., Световой В.Б.
Том 52, № 4 (2023) Влияние граничных условий на квантовый магнетотранспорт в тонкой пленке
Кузнецова И.А., Савенко О.В., Романов Д.Н.
Том 52, № 5 (2023) Влияние деградации горячих носителей на характеристики высоковольтного КНИ транзистора с большой областью дрейфа
Новоселов А.С., Масальский Н.В.
Том 52, № 5 (2023) Влияние материала электродов на электроформовку и свойства мемристоров на основе открытых “сэндвич”-структур металл–SiO2–металл
Мордвинцев В.М., Кудрявцев С.Е., Наумов В.В., Горлачев Е.С.
Том 52, № 4 (2023) Влияние мощности магнетронного распыления на осаждение пленок ITO при комнатной температуре
Саенко А.В., Вакулов З.Е., Климин В.С., Билык Г.Е., Малюков С.П.
Том 53, № 2 (2024) Влияние примеси никеля на эксплуатационные параметры кремниевого солнечного элемента
Кенжаев З.Т., Зикриллаев Н.Ф., Оджаев В.Б., Исмайлов К.А., Просолович В.С., Зикриллаев Х.Ф., Ковешников С.В.
Том 52, № 4 (2023) Влияние структурных дефектов на электрофизические параметры p-i-n-фотодиодов
Ковальчук Н.С., Ластовский С.Б., Оджаев В.Б., Петлицкий А.Н., Просолович В.С., Шестовский Д.В., Явид В.Ю., Янковский Ю.Н.
Том 52, № 6 (2023) ВНИМАНИЮ АВТОРОВ
Том 53, № 2 (2024) Временные изменения механизмов токопрохождения в легированном эрбием пористом кремнии
Хамзин Э.Х., Услин Д.А.
Том 52, № 5 (2023) Закономерности формирования подвижных локализованных магнитных конфигураций и технология изготовления структур для реализации элементов магнитной памяти
Проказников А.В., Папорков В.А., Чириков В.А., Евсеева Н.А.
Том 52, № 3 (2023) Запись поляризационного состояния фотона в коррелированные электронные состояния массива квантовых точек
Цуканов А.В., Катеев И.Ю.
Том 52, № 5 (2023) Защитные свободновисящие пленки для установок проекционной литографии экстремального ультрафиолетового диапазона
Зуев С.Ю., Лопатин А.Я., Лучин В.И., Салащенко Н.Н., Цыбин Н.Н., Чхало Н.И.
Том 52, № 6 (2023) Зондовая и спектральная диагностика плазмы газовой среды: BCl3–Cl2
Мурин Д.Б., Чесноков И.А., Гогулев И.А., Гришков А.Э.
Том 52, № 2 (2023) Измерения на РЭМ размеров рельефных структур в технологическом процессе производства микросхем
Новиков Ю.А., Филиппов М.Н.
Том 52, № 1 (2023) Искусственный интеллект никогда не заменит полностью человека
Абрамов И.И.
Том 52, № 2 (2023) Исследование возможности оптимизации взаимодействия NV-центров и фотонов путем изменения формы микрорезонаторов
Цуканов А.В., Катеев И.Ю.
Том 53, № 1 (2024) Исследование мемристорного эффекта в кроссбар-архитектуре для нейроморфных систем искусственного интеллекта
Полякова В.В., Саенко А.В., Коц И.Н., Ковалев А.В.
Том 52, № 2 (2023) Исследование оптических свойств сверхтонких пленок на основе силицида металлов
Керимов Э.А.
Том 52, № 4 (2023) Исследование сенсорных свойств упорядоченных массивов наностержней ZnO для детектирования УФ-излучения
Евстафьева М.В., Князев М.А., Корепанов В.И., Редькин А.Н., Рощупкин Д.В., Якимов Е.Е.
Том 52, № 1 (2023) Исследование фотоприемников с барьерами Шоттки на основе контакта IRSI–SI
Керимов Э.А.
Том 52, № 4 (2023) Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения
Глушко А.А., Морозов С.А., Чистяков М.Г.
Том 52, № 5 (2023) Компьютерное исследование влияния неоднородностей высокоомного слоя на резистивные переключения в структуре на основе микрокристалла селенида висмута
Сироткин В.В.
Том 52, № 1 (2023) Контактно-транспортные и автоэмиссионные свойства низкоразмерных 2D углеродных гетероструктур
Яфаров Р.К., Шабунин Н.О.
Том 52, № 1 (2023) Контроль параметров травления кремния в вч плазме CHF3 методом оптической эмиссионной спектроскопии
Мурин Д.Б., Чесноков И.А., Пивоваренок С.А., Ефремов А.М.
Том 52, № 4 (2023) Концентрация атомов фтора и кинетика реактивно-ионного травления кремния в смесях CF4 + O2, CHF3 + O2 и C4F8 + O2
Ефремов А.М., Бобылев А.В., Kwon K.
Том 53, № 1 (2024) Материалы для межсоединений интегральных схем с проектными нормами менее 5 нм
Рогожин А.Е., Глаз О.Г.
Том 52, № 4 (2023) Механизмы перераспределения углеродных загрязнений в пленках, сформированных методом атомно-слоевого осаждения
Фадеев А.В., Мяконьких А.В., Смирнова Е.А., Симакин С.Г., Руденко К.В.
Том 52, № 4 (2023) Многоуровневые мемристивные структуры на основе эпитаксиальных пленок YBa2Cu3O7 – δ
Тулина Н.А., Россоленко А.Н., Борисенко И.Ю., Иванов А.А.
Том 52, № 3 (2023) Моделирование адсорбции и диффузии атомов лития на дефектном графене для Li-ионной батареи
Асадов М.М., Маммадова С.О., Гусейнова С.С., Мустафаева С.Н., Лукичев В.Ф.
Том 52, № 6 (2023) Моделирование вертикального баллистического квантово-барьерного полевого транзистора на основе нелегированной AlxGa1 – xAs квантовой нанопроволоки
Поздняков Д.В., Борздов А.В., Борздов В.М.
Том 52, № 5 (2023) Моделирование влияния решеточных дефектов на работу разделения соединенных материалов
Махвиладзе Т.М., Сарычев М.Е.
Том 52, № 1 (2023) Моделирование дефектной структуры суперъячейки и явления переноса в TlInTe2
Асадов М.М., Мустафаева С.Н., Гусейнова С.С., Лукичев В.Ф.
Том 53, № 2 (2024) Моделирование диффузии атомов в многокомпонентных полупроводниках в неупорядоченном состоянии
Асадов С.М.
Том 52, № 4 (2023) Моделирование кремниевых полевых с полностью охватывающим затвором нанотранзисторов с высоким k подзатворного диэлектрика
Масальский Н.В.
Том 52, № 3 (2023) Моделирование системы наноантенн, расположенных в канале TSV, в качестве системы приема-передачи данных
Серов Д.А., Хорин И.А.
Том 53, № 1 (2024) Моделирование физико-химических и электронных свойств литийсодержащего 4Н-SiC и бинарных фаз системы Si–C–Li
Асадов М.М., Гусейнова С.С., Мустафаева С.Н., Маммадова С.О., Лукичев В.Ф.
Том 53, № 1 (2024) Моделирование электронных свойств М-легированных суперъячеек Li4Ti5O12—М (М = Zr, Nb) с моноклинной структурой для литий-ионных аккумуляторов
Асадов М.М., Маммадова С.О., Мустафаева С.Н., Гусейнова С.С., Лукичев В.Ф.
Том 53, № 1 (2024) Молекулярное наслаивание аддитивного слоя диоксида кремния на анодированные оксиды тантала и ниобия
Ежовский Ю.К., Михайловский С.В.
Том 52, № 3 (2023) Морфология поверхности и спектры фотолюминесценции псевдоморфных сверхрешеток {InGaAs/GaAs} на подложках GaAs (100), (110) и (111)A
Климов Е.А., Пушкарёв С.С., Клочков А.Н., Можаева М.О.
Том 52, № 6 (2023) МЭМС-переключатель на основе кантилевера с увеличенным контактным усилием
Белозеров И.А., Уваров И.В.
Том 52, № 5 (2023) Нейроморфные системы: приборы, архитектура и алгоритмы
Фетисенкова К.А., Рогожин А.Е.
Том 53, № 2 (2024) Новый подход к моделированию радиационных эффектов низкой интенсивности в биполярных микросхемах
Чумаков А.И.
Том 52, № 5 (2023) О влиянии малых добавок F2, H2 и HF на концентрации активных частиц в плазме тетрафторметана
Ефремов А.М., Смирнов С.А., Бетелин В.Б.
Том 52, № 4 (2023) Одиночные структурные повреждения в СБИС
Чумаков А.И.
Том 52, № 2 (2023) Оксидные мемристоры для ReRAM: подходы, характеристики, структуры
Исаев А.Г., Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Том 53, № 1 (2024) Особенности электроформовки и функционирования мемристоров на основе открытых “сэндвич”-структур TiN–SiO2–Mo
Горлачев Е.С., Мордвинцев В.М., Кудрявцев С.Е.
Том 52, № 1 (2023) Параметры газовой фазы и кинетика реактивно-ионного травления SiO2 в плазме CF4/C4F8/Ar/He
Ефремов А.М., Kwon K.
Том 53, № 1 (2024) Параметры и состав плазмы в смеси CF4 + H2 + Ar: эффект соотношения CF4/H2
Мяконьких А.В., Кузьменко В.О., Ефремов А.М., Руденко К.В.
Том 52, № 2 (2023) Параметры плазмы и кинетика реактивно-ионного травления SiO2 и Si3N4 в смеси HBr/Cl2/Ar
Ефремов А.М., Бетелин В.Б., Kwon K.
Том 53, № 1 (2024) Перенос электронов в биполярном транзисторе со сверхрешеткой в области эмиттера
Голиков О.Л., Забавичев И.Ю., Иванов А.С., Оболенский С.В., Оболенская Е.C., Павельев Д.Г., Потехин А.А., Пузанов А.C., Тарасова Е.А., Хазанова С.В.
Том 52, № 3 (2023) Плазма водорода в условиях электрон-циклотронного резонанса в технологии микроэлектроники
Полушкин Е.А., Нефедьев С.В., Ковальчук А.В., Солтанович О.А., Шаповал С.Ю.
Том 52, № 3 (2023) Прецизионная томография кудитов
Богданов Ю.И., Богданова Н.А., Кузнецов Ю.А., Кокшаров К.Б., Лукичёв В.Ф.
Том 53, № 2 (2024) Применение метода конечных элементов для расчета параметров поверхностных акустических волн и устройств на их основе
Койгеров А.С.
Том 53, № 1 (2024) Применение спектральной эллипсометрии для диэлектрических, металлических и полупроводниковых пленок в технологии микроэлектроники
Гайдукасов Р.А., Мяконьких А.В.
Том 52, № 6 (2023) Проектирование интегральных умножителей напряжения по типовым КМОП-технологиям
Синюкин А.С., Коноплев Б.Г., Ковалев А.В.
Том 52, № 6 (2023) Прототипы приборов гетерогенной гибридной полупроводниковой электроники с встроенным биомолекулярным доменом
Баранов М.А., Карсеева Э.К., Цыбин О.Ю.
Том 53, № 2 (2024) Пульсации DC/DC преобразователя, построенного по SEPIC топологии
Битюков В.К., Лавренов А.И.
Том 52, № 1 (2023) Разработка методики построения нелинейной модели метаморфного 0.15 мкм МHEMT InAlAs/InGaAs транзистора
Локотко В.В., Васильевский И.С., Каргин Н.И.
Том 52, № 3 (2023) Разработка нелинейной модели псевдоморфного 0.15 мкм рHEMT AlGaAs/InGaAs/GaAs транзистора
Цунваза Д., Рыжук Р.В., Васильевский И.С., Каргин Н.И., Клоков В.А.
Том 52, № 1 (2023) Расчет напряженности электрического поля и плотности тока внутри тонкого металлического слоя с учетом скин-эффекта
Завитаев Э.В., Русаков О.В., Чухлеб Е.П.
Том 52, № 6 (2023) Расчет рабочих характеристик МЭМС‑переключателя c “плавающим” электродом
Морозов М.О., Уваров И.В.
Том 52, № 2 (2023) Сечения процессов рассеяния при электронно-лучевой литографии
Рогожин А.Е., Сидоров Ф.А.
Том 53, № 1 (2024) Структурирование поверхности тонких углеродных пленок в ходе активации импульсами тока микросекундной длительности
Нефедов Д.В., Шабунин Н.О., Браташов Д.Н.
Том 53, № 2 (2024) Структурные особенности и электрические свойства термомиграционных каналов Si(Al) для высоковольтных фотоэлектрических преобразователей
Ломов А.А., Середин Б.М., Мартюшов С.Ю., Татаринцев А.А., Попов В.П., Малибашев А.В.
Том 52, № 4 (2023) Томографии детекторов с учетом мертвого времени
Богданов Ю.И., Катамадзе К.Г., Борщевская Н.А., Авосопянц Г.В., Богданова Н.А., Кулик С.П., Лукичев В.Ф.
Том 52, № 6 (2023) Электрофизические параметры p-i-n-фотодиодов, облученных γ-квантами 60Со
Ковальчук Н.С., Ластовский С.Б., Оджаев В.Б., Петлицкий А.Н., Просолович В.С., Шестовский Д.В., Явид В.Ю., Янковский Ю.Н.
Том 52, № 5 (2023) Электрофизические параметры и эмиссионные спектры тлеющего разряда дифтордихлорметана
Мурин Д.Б., Чесноков И.А., Гогулев И.А., Гришков А.Э.
Том 52, № 1 (2023) Электрофизические характеристики и эмиссионные спектры плазмы тетрафторметана
Мурин Д.Б., Пивоваренок С.А., Чесноков И.А., Гогулев И.А.
1 - 70 из 70 результатов

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах