Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures

Выпуск Название Файл
Том 51, № 1 (2017) Application of B12N12 and B12P12 as two fullerene-like semiconductors for adsorption of halomethane: Density functional theory study PDF
(Eng)
Rad A.
Том 51, № 1 (2017) InGaN/GaN light-emitting diode microwires of submillimeter length PDF
(Eng)
Lundin W., Rodin S., Sakharov A., Lundina E., Usov S., Zadiranov Y., Troshkov S., Tsatsulnikov A.
Том 50, № 10 (2016) Investigation of the fabrication processes of AlGaN/AlN/GaN НЕМТs with in situ Si3N4 passivation PDF
(Eng)
Tomosh K., Pavlov A., Pavlov V., Khabibullin R., Arutyunyan S., Maltsev P.
Том 50, № 9 (2016) Formation of the low-resistivity compound Cu3Ge by low-temperature treatment in an atomic hydrogen flux PDF
(Eng)
Erofeev E., Kazimirov A., Fedin I., Kagadei V.
Том 50, № 9 (2016) Epitaxial growth of GaN/AlN/InAlN heterostructures for HEMTs in horizontal MOCVD reactors with different designs PDF
(Eng)
Tsatsulnikov A., Lundin W., Sakharov A., Zavarin E., Usov S., Nikolaev A., Yagovkina M., Ustinov V., Cherkashin N.
Том 50, № 9 (2016) Conditions of growth of high-quality relaxed Si1–xGex layers with a high Ge content by the vapor-phase decomposition of monogermane on a sublimating Si hot wire PDF
(Eng)
Shengurov V., Chalkov V., Denisov S., Matveev S., Nezhdanov A., Mashin A., Filatov D., Stepikhova M., Krasilnik Z.
Том 50, № 9 (2016) Synthesis of ZnO-based nanostructures for heterostructure photovoltaic cells PDF
(Eng)
Lashkova N., Maximov A., Ryabko A., Bobkov A., Moshnikov V., Terukov E.
Том 50, № 9 (2016) Growth features and spectroscopic structure investigations of nanoprofiled AlN films formed on misoriented GaAs substrates PDF
(Eng)
Seredin P., Goloshchapov D., Lenshin A., Lukin A., Fedyukin A., Arsentyev I., Bondarev A., Lubyanskiy Y., Tarasov I.
Том 50, № 8 (2016) Estimation of the efficiency of the introduction of a porous layer into a silicon-on-sapphire structure substrate to enhance the reliability of devices under irradiation PDF
(Eng)
Aleksandrov P., Baranova E., Budaragin V.
Том 50, № 8 (2016) On a silicon-based photonic-crystal cavity for the near-IR region: Numerical simulation and formation technology PDF
(Eng)
Serafimovich P., Stepikhova M., Kazanskiy N., Gusev S., Egorov A., Skorokhodov E., Krasilnik Z.
Том 50, № 8 (2016) On a two-layer Si3N4/SiO2 dielectric mask for low-resistance ohmic contacts to AlGaN/GaN HEMTs PDF
(Eng)
Arutyunyan S., Pavlov A., Pavlov B., Tomosh K., Fedorov Y.
Том 50, № 8 (2016) Formation of donors in germanium–silicon alloys implanted with hydrogen ions with different energies PDF
(Eng)
Pokotilo Y., Petukh A., Litvinov V., Markevich V., Abrosimov N., Kamyshan A., Giro A., Solyanikova K.
Том 50, № 8 (2016) Changes in the conductivity of lead-selenide thin films after plasma etching PDF
(Eng)
Zimin S., Amirov I., Naumov V.
Том 50, № 7 (2016) Quantum dots grown in the InSb/GaSb system by liquid-phase epitaxy PDF
(Eng)
Parkhomenko Y., Dement’ev P., Moiseev K.
Том 50, № 7 (2016) Chloride epitaxy of β-Ga2O3 layers grown on c-sapphire substrates PDF
(Eng)
Nikolaev V., Pechnikov A., Stepanov S., Sharofidinov S., Golovatenko A., Nikitina I., Smirnov A., Bugrov V., Romanov A., Brunkov P., Kirilenko D.
Том 50, № 7 (2016) Technique for forming ITO films with a controlled refractive index PDF
(Eng)
Kukushkin M., Zakheim D., Pavlov S., Markov L., Smirnova I., Pavluchenko A.
Том 50, № 6 (2016) Synthesis of metal and semiconductor nanoparticles in a flow of immiscible liquids PDF
(Eng)
Matyushkin L., Ryzhov O., Aleksandrova O., Moshnikov V.
Том 50, № 6 (2016) On the photon annealing of silicon-implanted gallium-nitride layers PDF
(Eng)
Seleznev B., Moskalev G., Fedorov D.
Том 50, № 6 (2016) The modification of BaCe0.5Zr0.3Y0.2O3–δ with copper oxide: Effect on the structural and transport properties PDF
(Eng)
Lyagaeva Y., Vdovin G., Nikolaenko I., Medvedev D., Demin A.
Том 50, № 5 (2016) Acanthite–argentite transformation in nanocrystalline silver sulfide and the Ag2S/Ag nanoheterostructure PDF
(Eng)
Gusev A., Sadovnikov S.
Том 50, № 5 (2016) Formation and reconstruction of Se nanoislands at the surface of thin epitaxial ZnSe layers grown on GaAs substrates PDF
(Eng)
Kozlovskiy V., Krivobok V., Kuznetsov P., Nikolaev S., Onistchenko E., Pruchkina A., Temiryazev A.
Том 50, № 5 (2016) Role of the heat accumulation effect in the multipulse modes of the femtosecond laser microstructuring of silicon PDF
(Eng)
Guk I., Shandybina G., Yakovlev E.
Том 50, № 5 (2016) On the laser detachment of n-GaN films from substrates, based on the strong absorption of IR light by free charge carriers in n+-GaN substrates PDF
(Eng)
Virko M., Kogotkov V., Leonidov A., Voronenkov V., Rebane Y., Zubrilov A., Gorbunov R., Latyshev P., Bochkareva N., Lelikov Y., Tarhin D., Smirnov A., Davydov V., Shreter Y.
Том 50, № 4 (2016) On a reduction in cracking upon the growth of AlN on Si substrates by hydride vapor-phase epitaxy PDF
(Eng)
Sharofidinov S., Nikolaev V., Smirnov A., Chikiryaka A., Nikitina I., Odnoblyudov M., Bugrov V., Romanov A.
Том 50, № 4 (2016) Specific features of doping with antimony during the ion-beam crystallization of silicon PDF
(Eng)
Pashchenko A., Chebotarev S., Lunin L., Irkha V.
101 - 125 из 135 результатов << < 1 2 3 4 5 6 > >> 

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».