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Volume 53, Nº 14 (2019)
Optical Estimation of the Carrier Concentration and the Value of Strain in Monolayer Graphene Grown on 4H-SiC
Eliseyev I., Davydov V., Smirnov A., Nestoklon M., Dementev P., Lebedev S., Lebedev A., Zubov A., Mathew S., Pezoldt J., Bokai K., Usachov D.
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Volume 53, Nº 14 (2019)
Fullerene for the Improvement of PbS QDs-Based Hybrid Solar Cells
Korzhenevskii I., Onishchuk D., Babaev A., Dubavik A., Parfenov P., Litvin A.
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(Eng)
Volume 53, Nº 9 (2019)
Chemical Shift and Exchange Interaction Energy of the 1s States of Magnesium Donors in Silicon. The Possibility of Stimulated Emission
Shastin V., Zhukavin R., Kovalevsky K., Tsyplenkov V., Rumyantsev V., Shengurov D., Pavlov S., Shuman V., Portsel L., Lodygin A., Astrov Y., Abrosimov N., Klopf J., Hübers H.
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(Eng)
Volume 53, Nº 14 (2019)
Electronic Structure of SiN Layers on Si(111) and SiC/Si(111) Substrates
Timoshnev S., Mizerov A., Lapushkin M., Kukushkin S., Bouravleuv A.
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(Eng)
Volume 53, Nº 8 (2019)
Influence of the Charge State of Xenon Ions on the Depth Distribution Profile Upon Implantation into Silicon
Balakshin Y., Kozhemiako A., Petrovic S., Erich M., Shemukhin A., Chernysh V.
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(Eng)
Volume 52, Nº 15 (2018)
Dependence of Mechanical Stresses in Silicon Nitride Films on the Mode of Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition
Novak A., Novak V., Dedkova A., Gusev E.
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(Eng)
Volume 53, Nº 12 (2019)
Charge Transfer in Gap Structures Based on the Chalcogenide System (As2Se3)100 –xBix
Castro R., Khanin S., Smirnov A., Kononov A.
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(Eng)
Volume 52, Nº 12 (2018)
Terahertz Injection Lasers Based on a PbSnSe Solid Solution with an Emission Wavelength up to 50 μm and Their Application in the Magnetospectroscopy of Semiconductors
Maremyanin K., Ikonnikov A., Bovkun L., Rumyantsev V., Chizhevskii E., Zasavitskii I., Gavrilenko V.
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(Eng)
Volume 53, Nº 11 (2019)
Determination of the Free Charge Carrier Concentration in Boron-Doped Silicon Nanowires Using Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy
Lipkova E., Efimova A., Gonchar K., Presnov D., Eliseev A., Lapshin A., Timoshenko V.
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(Eng)
Volume 53, Nº 16 (2019)
Study of Structural Modification of Composites with Ge Nanoclusters by Optical and Electron Microscopy Methods
Astankova K., Gorokhov E., Azarov I., Volodin V., Latyshev A.
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(Eng)
Volume 53, Nº 11 (2019)
Structure of Se95As5 Chalcogenide Glassy Semiconductor Doped by EuF3 Impurity
Garibova S., Isayev A., Mekhtiyeva S., Atayeva S.
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(Eng)
Volume 53, Nº 15 (2019)
Optical Properties of Composite Materials Based on Poly[2-methoxy-5-(2-ethylhexyloxy)-1,4-Phenylenevinylene] and Titanium Dioxide in the Mid-IR Spectral Range
Belogorokhov I., Belogorokhova L.
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(Eng)
Volume 53, Nº 11 (2019)
Boson Peak Related to Ga Nanoclusters in AlGaN Layers Grown by Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy at Ga-Rich Conditions
Davydov V., Jmerik V., Roginskii E., Kitaev Y., Beltukov Y., Smirnov M., Nechaev D., Smirnov A., Eliseyev I., Brunkov P., Ivanov S.
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(Eng)
Volume 53, Nº 15 (2019)
State of the Surface of Polycrystalline Silver after Exposure to Activated Oxygen
Ashkhotov O., Khubezhov S., Ashkhotova I.
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(Eng)
Volume 53, Nº 9 (2019)
Evolution of the Impurity Photoconductivity in CdHgTe Epitaxial Films with Temperature
Uaman Svetikova T., Ikonnikov A., Rumyantsev V., Kozlov D., Chernichkin V., Galeeva A., Varavin V., Mikhailov N., Dvoretskii S., Morozov S., Gavrilenko V.
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