Mechanism of microplasma turn-off upon the avalanche breakdown of silicon p–n structures


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A possible mechanism for natural-microplasma turn-off in silicon p–n junctions is studied. It is shown that the turn-off effect is not a random process, but is based on a certain physical mechanism. The mechanism is associated with the formation of graded-gap regions caused by thermoelastic stresses and electric- field redistribution in the microplasma region.

Об авторах

A. Musaev

Amirkhanov Institute of Physics, Dagestan Scientific Center

Автор, ответственный за переписку.
Email: akhmed-musaev@yandex.ru
Россия, ul. Yaragskogo 94, Makhachkala, 367003


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах