Measurement Techniques
ISSN 0543-1972 (Print)
ISSN 1573-8906 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
accelerometer
calibration
comparator
concentration
diagnostics
frequency instability
laser
laser beam
laser radiation
magnetic field
mathematical model
metrological characteristics
nondestructive testing
photodetector
primary standard
sensitivity
sensor
spectrum
standard
uncertainty
verification
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
accelerometer
calibration
comparator
concentration
diagnostics
frequency instability
laser
laser beam
laser radiation
magnetic field
mathematical model
metrological characteristics
nondestructive testing
photodetector
primary standard
sensitivity
sensor
spectrum
standard
uncertainty
verification
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Kuzin, A.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 59, № 8 (2016)
Nanometrology
Experimental Study of Three-Dimensional Reconstruction of Relief Structures from Stereo Images Obtained in a Scanning Electron Microscope
Том 59, № 8 (2016)
Article
Measurement of the Thickness Nonuniformity of Nanofilms Using an Electron Probe Method
Том 59, № 2 (2016)
Physicochemical Measurements
Measurement of Structural Parameters Based on X-Ray Emission Spectra with Energy-Dispersive Detection
Том 59, № 3 (2016)
Article
Analysis of Factors Affecting the Accuracy of Three-Dimensional Reconstruction of the Surface of Objects with Submicrometer Relief Obtained by Scanning Electron Microscope Stereo Images
Том 59, № 10 (2017)
Nanometrology
Thermal Effects During Low-Voltage Electron-Probe X-Ray Spectral Microanalysis with Nanometer Localization
Том 59, № 11 (2017)
Physicochemical Measurements
Change in the Chemical Composition of an Analyzed Object During Low-Voltage Electron Probe X-Ray Spectral Microanalysis
Том 59, № 12 (2017)
Article
Calibration of Scanning Electron Microscopes over a Wide Range of Magnifications
Том 60, № 3 (2017)
Article
Measurement of the Height of Nanorelief Elements by the Method of Three-Dimensional Reconstruction in a Scanning Electron Microscope
Том 60, № 6 (2017)
Nanometrology
Thermal Action of an Electronic Probe with X-ray Spectral Nanoanalysis
Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады
Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>
cookie файлдары туралы< / a>
TOP