Calibration of Scanning Electron Microscopes over a Wide Range of Magnifications


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A new method is proposed for calibrating scanning electron microscopes (SEM) with magnification in the 10–50000× range using an end gauge and an auxiliary structure. Use of a certified end gauge ensures traceability of the calibration results to the primary standard for the meter. The relative expanded uncertainty of measurements on an S-4800 SEM at magnifications of 1000, 10000, and 50000× is less than 0.14%.

Об авторах

R. Kirtaev

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Автор, ответственный за переписку.
Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Dolgoprudnyi, Moscow Region

A. Kuzin

All-Russia Research Institute of Metrological Service (VNIIMS)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

V. Maslov

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

V. Mityukhlyaev

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

P. Todua

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Dolgoprudnyi, Moscow Region

M. Filippov

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University); Institute of General and Inorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences (IGIC RAS)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Dolgoprudnyi, Moscow Region; Moscow

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Springer Science+Business Media New York, 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).