Spectra of SmS Films in the Far- and Mid-Infrared Regions

Yu. V. Ulashkevich; V. V. Kaminski; S. M. Soloviev; N. V. Sharenkova

doi:10.1134/S1063782619110216

Spectra of SmS Films in the Far- and Mid-Infrared Regions

Авторлар: Ulashkevich Y.V.¹, Kaminski V.V.¹, Soloviev S.M.¹, Sharenkova N.V.¹
Мекемелер:
1. Ioffe Institute
Шығарылым: Том 53, № 11 (2019)
Беттер: 1511-1513
Бөлім: Amorphous, Vitreous, and Organic Semiconductors
URL: https://journals.rcsi.science/1063-7826/article/view/207308
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619110216
ID: 207308

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

The basic features of the band structure observed in bulk samples are retained in polycrystalline SmS thin films. Specifically, the bottom of the conduction band is formed from s-type states and there exist donor impurity levels in the band gap, at an energy of 0.04–0.065 eV below the bottom of the conduction band.