Отправить статью по E-mail Spectra of SmS Films in the Far- and Mid-Infrared Regions
- Авторы: Ulashkevich Y.1, Kaminski V.1, Soloviev S.1, Sharenkova N.1
-
Учреждения:
- Ioffe Institute
- Выпуск: Том 53, № 11 (2019)
- Страницы: 1511-1513
- Раздел: Amorphous, Vitreous, and Organic Semiconductors
- URL: https://journals.rcsi.science/1063-7826/article/view/207308
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619110216
- ID: 207308
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Только для подписчиков
Аннотация
The basic features of the band structure observed in bulk samples are retained in polycrystalline SmS thin films. Specifically, the bottom of the conduction band is formed from s-type states and there exist donor impurity levels in the band gap, at an energy of 0.04–0.065 eV below the bottom of the conduction band.
Ключевые слова
Об авторах
Yu. Ulashkevich
Ioffe Institute
Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
V. Kaminski
Ioffe Institute
Автор, ответственный за переписку.
Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
S. Soloviev
Ioffe Institute
Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
N. Sharenkova
Ioffe Institute
Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
