Исследование оптических свойств сверхтонких пленок на основе силицида металлов
- Авторы: Керимов Э.А.1
-
Учреждения:
- Азербайджанский государственный технический университет
- Выпуск: Том 52, № 2 (2023)
- Страницы: 160-164
- Раздел: ТЕХНОЛОГИЯ
- URL: https://journals.rcsi.science/0544-1269/article/view/138497
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0544126923700229
- EDN: https://elibrary.ru/PYLCTO
- ID: 138497
Цитировать
Аннотация
При исследовании оптических свойств тонких пленок для получения достоверных сведений о величине их оптических постоянных необходимо точно измерят толщины металла. Измерение толщины 600 < d < 1500 А0 проводились методом многолучевой интерферометрии и резонансно-частотным методом.
Об авторах
Э. А. Керимов
Азербайджанский государственный технический университет
Автор, ответственный за переписку.
Email: E_Kerimov.fizik@mail.ru
Азербайджан, AZ 1073, Баку, пр. Г. Джавида 35
Список литературы
- Тришенков М.А. Фотоприемные устройства и ПЗС. М.: Радио и связь, 1992. 400 с.
- Elliott C.T. Future infrared detector technologies // Fourth Int. Conf. on Advanced Infrared Detectors and Systems. 1990. P. 61–66.
- Byrne C.F., Knowles P. Infrared formed in mercury cadmium telluride grown by MOCVD // Semicond. Sci. Technol. 1988. № 3. P. 377–381.
- Иевлев В.М., Солдатенко С.А., Кущев С.Б. и др. Эффект фотонной активации синтеза пленок силицидов в гетеросистеме (111) Si–Ni–Pt // Конденсированные среды и межфазные границы. 2010. Т. 9. № 3. С. 216–227.