Отправить статью по E-mail Setup for Measuring the Thermoelectric Properties of Ultrathin Wires
- Авторы: Uryupin O.N.1, Shabaldin A.A.1
-
Учреждения:
- Ioffe Institute
- Выпуск: Том 53, № 5 (2019)
- Страницы: 695-698
- Раздел: XVI International Conference “thermoelectrics and Their Applications–2018” (Iscta 2018,) St. Petersburg, October 8–12, 2018
- URL: https://journals.rcsi.science/1063-7826/article/view/206193
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619050270
- ID: 206193
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Только для подписчиков
Аннотация
An experimental setup is developed to measure the thermoelectric properties of semiconductor nanowires with diameters of up to 5 nm in dielectric matrices. This setup makes it possible to measure the electrical resistance and thermoelectric power of nanostructured samples in the temperature range of 77–400 K.
Об авторах
O. Uryupin
Ioffe Institute
Автор, ответственный за переписку.
Email: O.uryupin@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
A. Shabaldin
Ioffe Institute
Email: O.uryupin@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021
Дополнительные файлы
