Silicon Nanopillar Microarrays: Formation and Resonance Reflection of Light


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Abstract—The results of investigating the spectral characteristics of reflection from silicon nanopillar (Si NP) microarrays in the wavelength region from 400 to 1100 nm are presented. The Si nanopillars are formed by electron lithography on a negative resist with subsequent reactive ion etching. The Si nanopillars are etched through a resist mask and SiO2 100 nm thick. In the spectra of reflection from nanopillar microarrays, minima are observed, the position of which depends strongly on the Si nanopillar diameter.

Об авторах

L. Basalaeva

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Автор, ответственный за переписку.
Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

Yu. Nastaushev

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

F. Dultsev

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences; Novosibirsk State University

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

N. Kryzhanovskaya

St. Petersburg National Research Academic University, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

E. Moiseev

St. Petersburg National Research Academic University, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Россия, St. Petersburg, 194021


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах