Silicon Nanopillar Microarrays: Formation and Resonance Reflection of Light


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Abstract—The results of investigating the spectral characteristics of reflection from silicon nanopillar (Si NP) microarrays in the wavelength region from 400 to 1100 nm are presented. The Si nanopillars are formed by electron lithography on a negative resist with subsequent reactive ion etching. The Si nanopillars are etched through a resist mask and SiO2 100 nm thick. In the spectra of reflection from nanopillar microarrays, minima are observed, the position of which depends strongly on the Si nanopillar diameter.

Авторлар туралы

L. Basalaeva

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

Yu. Nastaushev

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

F. Dultsev

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences; Novosibirsk State University

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

N. Kryzhanovskaya

St. Petersburg National Research Academic University, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

E. Moiseev

St. Petersburg National Research Academic University, Russian Academy of Sciences

Email: basalaeva@isp.nsc.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>