Temperature dependences of the electrical parameters of anisotype NiO/CdTe heterojunctions


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The I–V characteristics of NiO/CdTe heterostructures fabricated by reactive magnetron sputtering are measured at different temperatures. It is established that current transport through the NiO/CdTe heterojunction is mainly controlled via generation–recombination and tunneling under forward bias and via tunneling under reverse bias. The investigated heterostructures generate an open-circuit voltage of Voc = 0.26 V and a short-circuit current density of Isc = 58.7 μA/cm2 at an illumination intensity of 80 mW/cm2.

Об авторах

H. Parkhomenko

Fedkovich Chernivtsi National University

Автор, ответственный за переписку.
Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

M. Solovan

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

A. Mostovyi

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

K. Ulyanytsky

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

P. Maryanchuk

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах