Temperature dependences of the electrical parameters of anisotype NiO/CdTe heterojunctions


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The I–V characteristics of NiO/CdTe heterostructures fabricated by reactive magnetron sputtering are measured at different temperatures. It is established that current transport through the NiO/CdTe heterojunction is mainly controlled via generation–recombination and tunneling under forward bias and via tunneling under reverse bias. The investigated heterostructures generate an open-circuit voltage of Voc = 0.26 V and a short-circuit current density of Isc = 58.7 μA/cm2 at an illumination intensity of 80 mW/cm2.

Авторлар туралы

H. Parkhomenko

Fedkovich Chernivtsi National University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

M. Solovan

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

A. Mostovyi

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

K. Ulyanytsky

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012

P. Maryanchuk

Fedkovich Chernivtsi National University

Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Украина, Chernivtsi, 58012


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>