Current–voltage characteristics of Schottky diodes at high current densities under the injection of minority carriers


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

An analytical expression is derived for the current–voltage characteristic of a Schottky diode at a high injection level of minority carriers. It is shown that, even at very high current densities, the higher the base doping level, the larger the voltage drop across the diode. The physical mechanism responsible for this “paradoxical” result is analyzed. The validity of the analytical result is confirmed by a numerical calculation with software that takes into account the whole set of nonlinear effects caused by a high injection level in the base layer and by heavy doping of the emitter region.

Об авторах

T. Mnatsakanov

All-Russia Electrotechnical Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: mnatt@yandex.ru
Россия, Moscow, 111250

A. Tandoev

All-Russia Electrotechnical Institute

Email: mnatt@yandex.ru
Россия, Moscow, 111250

M. Levinshtein

Ioffe Institute

Email: mnatt@yandex.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

S. Yurkov

All-Russia Electrotechnical Institute

Email: mnatt@yandex.ru
Россия, Moscow, 111250

J. Palmour

Wolfspeed

Email: mnatt@yandex.ru
США, 3026 East Cornwallis Rd., Research Triangle Park, New York, NC, 27709

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).