Degradation of micromorphous thin-film silicon (α-Si/μc-Si) solar modules: Evaluation of seasonal efficiency based on the data of monitoring


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A method for assessing the efficiency of α-Si/μc-Si solar modules is developed; the method is based on monitoring current and voltage at the point of highest voltage and on measuring the temperature at the surface of the module. The technique for assessment of the parameters of the α-Si/μc-Si modules in the course of their operation after initial degradation of the module is described; the results of parameter evaluation are compared with the values measured in the laboratory. The error in evaluating parameters was no larger than 3%; this error amounted to 0.36% in the case of estimating the parameters under standard conditions and maximal power of the module. This method can be used for evaluating a module’s efficiency and for short-term prediction (day, week) of the power generated by a solar power plant under conditions of operation using standard tools for monitoring.

Об авторах

D. Bogdanov

Lappeenranta University of Technology; Ioffe Institute; St. Petersburg Academic University Nanotechnology—Research and Education Center, Russian Academy of Sciences

Автор, ответственный за переписку.
Email: dmitrii.bogdanov@lut.fi
Финляндия, Lappeenranta, 53850; St. Petersburg, 194021; St. Petersburg, 194021

G. Gorbatovskii

Ioffe Institute

Email: dmitrii.bogdanov@lut.fi
Россия, St. Petersburg, 194021

V. Verbitskii

Ioffe Institute

Email: dmitrii.bogdanov@lut.fi
Россия, St. Petersburg, 194021

A. Bobyl

Ioffe Institute

Email: dmitrii.bogdanov@lut.fi
Россия, St. Petersburg, 194021

E. Terukov

Ioffe Institute; Research and Development Center for Thin-Film Technologies in Power-Engineering at the Ioffe Institute

Email: dmitrii.bogdanov@lut.fi
Россия, St. Petersburg, 194021; St. Petersburg, 194064

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).