Influence of the Surface Layer on the Electrochemical Deposition of Metals and Semiconductors into Mesoporous Silicon


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The influence of the surface layer on the process of the electrochemical deposition of metals and semiconductors into porous silicon is studied. It is shown that the surface layer differs in structure and electrical characteristics from the host porous silicon bulk. It is established that a decrease in the conductivity of silicon crystallites that form the surface layer of porous silicon has a positive effect on the process of the filling of porous silicon with metals and semiconductors. This is demonstrated by the example of nickel and zinc oxide. The effect can be used for the formation of nanocomposite materials on the basis of porous silicon and nanostructures with a high aspect ratio.

Об авторах

E. Chubenko

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Автор, ответственный за переписку.
Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013

S. Redko

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013

A. Sherstnyov

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013

V. Petrovich

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013

D. Kotov

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013

V. Bondarenko

Belarusian State University of Information and RadioElectronics

Email: eugene.chubenko@gmail.com
Белоруссия, Minsk, 220013


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах