Semiconductors
ISSN 1063-7826 (Print)
ISSN 1090-6479 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
GaAs
GaAs Substrate
GaN
Gallium Nitride
Sapphire Substrate
Versus Characteristic
annealing
carbon nanotubes
doping
exciton
graphene
heterostructure
heterostructures
luminescence
molecular-beam epitaxy
photoconductivity
photoluminescence
quantum dots
quantum well
silicon
thin films
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
авторлар
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
GaAs
GaAs Substrate
GaN
Gallium Nitride
Sapphire Substrate
Versus Characteristic
annealing
carbon nanotubes
doping
exciton
graphene
heterostructure
heterostructures
luminescence
molecular-beam epitaxy
photoconductivity
photoluminescence
quantum dots
quantum well
silicon
thin films
Ақпарат
Оқырмандар үшін
Авторларға
Кітапханалар үшін
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Yafarov, R. K.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 50, № 1 (2016)
Surfaces, Interfaces, and Thin Films
Morphological stability of the atomically clean surface of silicon (100) crystals after microwave plasma-chemical processing
Том 50, № 13 (2016)
Microelectronic and Nanoelectronic Technology
Formation of field-emission emitters by microwave plasma-chemical synthesis of nanocarbon structures
Том 51, № 4 (2017)
Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures
Surface nanostructuring in the carbon–silicon(100) system upon microwave plasma treatment
Том 52, № 2 (2018)
Nonelectronic Properties of Semiconductors (Atomic Structure, Diffusion)
Use of the Atomic Structure of Silicon Crystals to Obtain Multi-Tip Field-Emission Sources of Electrons
Том 52, № 9 (2018)
Surfaces, Interfaces, and Thin Films
Effect of High-Dose Carbon Implantation on the Phase Composition, Morphology, and Field-Emission Properties of Silicon Crystals
Том 53, № 1 (2019)
Surfaces, Interfaces, and Thin Films
Effect of Plasma-Chemical Surface Modification on the Electron Transport and Work Function in Silicon Crystals
Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады
Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>
cookie файлдары туралы< / a>
TOP