Impact of the Percolation Effect on the Temperature Dependences of the Capacitance–Voltage Characteristics of Heterostructures Based on Composite Layers of Silicon and Gold Nanoparticles


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The temperature dependences of the capacitance–voltage characteristics and deep-level spectra of a Au–n-Si:Au–Si–p-Si heterostructure based on a composite layer of Au and Si nanoparticles are investigated. The structure manifests the properties of a transistor connected to a circuit with a common emitter with a disconnected base and an emitter Schottky barrier between the Au point contact and the n–(Si:Au) layer. Nanoparticles in this layer form finite clusters with hopping conductivity; herewith, charge accumulation is observed in the region of the Au point contact. The system at a measurement temperature below 180 K transitions from the finite-cluster phase to the infinite-cluster phase due to the percolation effect. This phase manifests metallic properties in the lateral plane of the heterostructure, which transforms into a pn diode.

Авторлар туралы

M. Sobolev

Ioffe Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: m.sobolev@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

D. Yavsin

Ioffe Institute

Email: m.sobolev@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

S. Gurevich

Ioffe Institute

Email: m.sobolev@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>