EMF Induced in a pn Junction under a Strong Microwave Field and Light


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The effect of a strong electromagnetic field on currents and electromotive forces in a pn junction is considered. It is shown that a pn junction upon exposure to an electromagnetic wave becomes a source of electromotive force (emf) dependent on current. An analytical expression for the emf and internal resistance of such a source is derived. Dependences of the electromotive force and internal resistance on diode currents are obtained from the experimental current–voltage characteristic of a pn junction placed into a strong microwave (UHF) electromagnetic field.

Авторлар туралы

G. Gulyamov

Namangan Engineering-Construction Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: gulyamov1949@mail.ru
Өзбекстан, Namangan, 160103

U. Erkaboev

Namangan Engineering-Technological Institute

Email: gulyamov1949@mail.ru
Өзбекстан, Namangan, 160115

N. Sharibaev

Namangan Engineering-Technological Institute

Email: gulyamov1949@mail.ru
Өзбекстан, Namangan, 160115

A. Gulyamov

Physical-Technical Institute, Academy of Sciences of the Republic of Uzbekistan

Email: gulyamov1949@mail.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100084


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>