A study of deep centers in microplasma channels in GaP light-emitting diodes with green-emission spectrum


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The statistical delay of microplasma breakdown in GaP light-emitting diodes with the green-emission spectrum is studied. The unusual profound effect of deep centers on the statistical delay of avalanche breakdown is observed in the temperature range of 300–380 K; this effect is caused by a variation in the charge state of these centers due to a reduction in the reverse bias applied to the pn junction. Four deep levels are revealed and their parameters are determined.

Авторлар туралы

V. Ionychev

Mordovian State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: microelektro@mail.ru
Ресей, Saransk, 430000

A. Shesterkina

Mordovian State University

Email: microelektro@mail.ru
Ресей, Saransk, 430000


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>