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Volume 50, Nº 3 (2016)
Layer-by-Layer Analysis of the Thickness Distribution of Silicon Dioxide in the Structure SiO2/Si(111) by Inelastic Electron Scattering Cross-Section Spectroscopy
Pchelyakov O., Mikhlin Y., Parshin A., Kushchenkov S.
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Volume 52, Nº 12 (2018)
Analysis of the Behavior of Nonequilibrium Semiconductor Structures and Microwave Transistors During and After Pulsed γ- and γ-Neutron Irradiation
Venediktov M., Dukov D., Krevskiy M., Metelkin I., Chukov G., Elesin V., Obolensky S., Bozhen’kina A., Tarasova E., Fefelov A.
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(Eng)
Volume 50, Nº 3 (2016)
Study of the Electron Distribution in GaN and GaAs after γ-Neutron Irradiation
Tarasova E., Khananova A., Obolensky S., Zemlyakov V., Sveshnikov Y., Egorkin V., Ivanov V., Medvedev G., Smotrin D.
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