Informaçao sobre o Autor

Davletkildeev, N. A.

Edição Seção Título Arquivo
Volume 51, Nº 1 (2017) Microcrystalline, Nanocrystalline, Porous, and Composite Semiconductors Formation and properties of the buried isolating silicon-dioxide layer in double-layer “porous silicon-on-insulator” structures

Este site utiliza cookies

Ao continuar usando nosso site, você concorda com o procedimento de cookies que mantêm o site funcionando normalmente.

Informação sobre cookies