Informaçao sobre o Autor
Ploog, K.
Edição | Seção | Título | Arquivo |
Volume 52, Nº 5 (2018) | XXV International Symposium “Nanostructures: Physics and Technology”, Saint Petersburg, Russia, June 26–30, 2017. Nanostructure Characterization | Molecular Beam Epitaxy of Materials Interfaces with Atomic Precision |