Informaçao sobre o Autor
Lapshin, A. N.
Edição | Seção | Título | Arquivo |
Volume 53, Nº 11 (2019) | Microcrystalline, Nanocrystalline, Porous, and Composite Semiconductors | Determination of the Free Charge Carrier Concentration in Boron-Doped Silicon Nanowires Using Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy |