Informaçao sobre o Autor
Chasin, A.
Edição | Seção | Título | Arquivo |
Volume 52, Nº 10 (2018) | Physics of Semiconductor Devices | Analysis of the Features of Hot-Carrier Degradation in FinFETs | |
Volume 52, Nº 13 (2018) | Physics of Semiconductor Devices | Impact of the Device Geometric Parameters on Hot-Carrier Degradation in FinFETs |