Автор туралы ақпарат
Roslikov, V.
Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
Том 51, № 1 (2017) | Microcrystalline, Nanocrystalline, Porous, and Composite Semiconductors | Formation and properties of the buried isolating silicon-dioxide layer in double-layer “porous silicon-on-insulator” structures |