Автор туралы ақпарат

Konnikov, S. G.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 52, № 1 (2018) Microcrystalline, Nanocrystalline, Porous, and Composite Semiconductors X-Ray Study of the Superstructure in Heavily Doped Porous Indium Phosphide
Том 53, № 16 (2019) Nanostructures Technology The Study of Nanoindentation of Atomically Flat GaAs Surface using the Tip of Atomic-Force Microscope

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>