Автор туралы ақпарат
Shobolov, E.
Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
Том 52, № 9 (2018) | Surfaces, Interfaces, and Thin Films | Poole–Frenkel Effect and the Opportunity of Its Application for the Prediction of Radiation Charge Accumulation in Thermal Silicon Dioxide |