Estimation of the Temperature of the Current Filament that Forms upon Switching in GeSbTe


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The current–voltage characteristics of thin-film samples of the GeSbTe system are measured in the current control mode. Voltage oscillations observed after switching are investigated. It is shown that these oscillations can be associated with the formation of a hot current filament and its gradual cooling. The size and temperatures of the current filament are estimated. It is shown that the characteristic temperature in the hot current filament corresponds to the temperature of the phase transition to the crystalline state.

Авторлар туралы

S. Fefelov

Ioffe Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: s.fefelov@list.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

L. Kazakova

Ioffe Institute; St. Petersburg State Forest Technical University

Email: s.fefelov@list.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021; St. Petersburg, 194021

N. Bogoslovskiy

Ioffe Institute

Email: s.fefelov@list.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

K. Tsendin

Ioffe Institute

Email: s.fefelov@list.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>