Pulsed laser deposition of AlxGa1–xAs and GaP thin films onto Si substrates for photoelectric converters


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Pulsed laser deposition is used to produce AlGaAs and GaP thin films (with a thickness of less than 1 μm) on Si substrates. Methods for reducing the number of structural defects in the films are analyzed, and the effect of strains upon AlGaAs/Si and GaP/Si heterostructures is established by Raman spectroscopy. The application of Al0.3Ga0.7As and GaP films as wide-gap windows of silicon photoelectric converters is examined. The spectral characteristics of photocells based on Al0.3Ga0.7As/Si and GaP/Si heterostructures are studied. The heterostructures can be used as the first pn junction of a Si-based multijunction photoelectric converter.

Авторлар туралы

L. Lunin

Southern Scientific Center of Russian Academy of Sciences; Platov South-Russian State Polytechnic University (NPI)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: lunin_ls@mail.ru
Ресей, Rostov-on-Don, 344006; Novocherkassk, 346428

M. Lunina

Southern Scientific Center of Russian Academy of Sciences

Email: lunin_ls@mail.ru
Ресей, Rostov-on-Don, 344006

O. Devitsky

North-Caucasus Federal University

Email: lunin_ls@mail.ru
Ресей, Stavropol, 355029

I. Sysoev

North-Caucasus Federal University

Email: lunin_ls@mail.ru
Ресей, Stavropol, 355029


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>