On the ohmicity of Schottky contacts


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The conditions under which Schottky contacts become ohmic are analyzed. Proceeding from classical concepts of the mechanisms of current flow, a generalized Schottky contact model is investigated. This model takes into account the thermionic current of majority charge carriers and the recombination current of minority carriers in Schottky contacts with a dielectric gap. Based on an analysis of the predictions of this model, ohmicity criteria are obtained for Schottky contacts and the conditions for a low injection level and the ohmicity of Si-based Schottky contacts are compared. It is shown that the conditions for Schottky-contact ohmicity do not coincide with those for pn junctions.

Авторлар туралы

A. Sachenko

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

A. Belyaev

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

R. Konakova

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028


© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>