Informaçao sobre o Autor
Makeev, M. O.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 50, Nº 1 (2016) | Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena | Assessment of the resistance to diffusion destruction of AlAs/GaAs nanoscale resonant-tunneling heterostructures by IR spectral ellipsometry |