Informaçao sobre o Autor
Vikulin, I. M.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 50, Nº 9 (2016) | Physics of Semiconductor Devices | On methods of determining the band gap of semiconductor structures with p–n junctions | |
| Volume 51, Nº 10 (2017) | Physics of Semiconductor Devices | Degradation of the parameters of transistor temperature sensors under the effect of ionizing radiation |