Автор туралы ақпарат
Hellings, G.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 52, № 10 (2018) | Physics of Semiconductor Devices | Analysis of the Features of Hot-Carrier Degradation in FinFETs | |
| Том 52, № 13 (2018) | Physics of Semiconductor Devices | Impact of the Device Geometric Parameters on Hot-Carrier Degradation in FinFETs |