Exposure kinetics of a positive photoresist layer on an optically matched substrate

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

A number of works devoted to modeling the exposure process of a photoactive layer lying on an optically matched substrate is analyzed. The relationship between Dill's equations and previously obtained systems of equations is shown. Methods for reducing the system of two Dill's partial differential equations to ordinary differential equations, the accuracy of the numerical solution of which can be easily controlled, are considered sequentially. A procedure for using such equations to characterize the photochemical properties of positive photoresists is proposed.

Full Text

Restricted Access

About the authors

V. P. Kudrya

NRC “Kurchatov Institute”

Author for correspondence.
Email: kvp@ftian.ru

Физико-технологический институт им. К.А. Валиева РАН

Russian Federation, Moscow

References

  1. VLSI Technology. Edited by S.M. Sze. McGraw-Hill Book Company. USA 654, 1983, ISBN: 978-0070626867.
  2. Wegscheider R. Beiträge zur photochemischen Kinetik // Zeitschrift für Physikalische Chemie. 1922. V. 103. No 1. P. 273–306. https://doi.org/10.1515/zpch-1922-10318
  3. Herrick C.E. The Sensitometry of the Positive Diazotype Process // Journal of the Optical Society of America. 1952. V. 42. No 12. P. 904–910. https://doi.org/10.1364/JOSA.42.000904
  4. Herrick C.E. Solution of the Partial Differential Equations Describing Photodecomposition in a Light-absorbing Matrix having Light-absorbing Photoproducts // IBM Journal of Research and Development. 1966. V. 10. No 1. P. 2–5. https://doi.org/10.1147/rd.101.0002
  5. Dill F.H., Neureuther A.R. Machining integrated optical structures in photoresist // IEEE Transactions on Electron Devices. 1973. V. 20. No 12. P. 1173–1173. https://doi.org/10.1109/T-ED.1973.17826
  6. Neureuther A.R., Dill F.H. Photoresist modeling and device fabrication applications // Proceedings of the Symposium on Optical and Acoustical Microelectronics. Microwave Research Institute Symposia Series. 1975. V. 18. P. 233–249.
  7. Dill F.H., Hornberger W.P., Hauge P.S., Shaw J.M. Characterization of positive photoresist // IEEE Transactions on Electron Devices. 1975. V. 22. No 7. P. 445–452. https://doi.org/10.1109/T-ED.1975.18159
  8. Dill F.H., Neureuther A.R., Tuttle J.A., Walker E.J. Modeling Projection Printing of Positive Photoresists // IEEE Transactions on Electron Devices. 1975. V. 22. No 7. P. 456–464. https://doi.org/10.1109/T-ED.1975.18161
  9. Arushanyan O.B., Zaletkin S.F. Chislennoe reshenie obyknovennykh differentsial’nykh uravnenii na Fortrane. MSU Press, RF 336, 1990, ISBN: 5-211-00957-6 (in Russian).
  10. Dill F.H., Tuttle J.A., Neureuther A.R. Limits of optical lithography // International Electron Devices Meeting. 1974. P. 13–16. https://doi.org/10.1109/IEDM.1974.6219620
  11. Hamming R.W. Numerical Methods for Scientists and Engineers. McGraw-Hill Book Company. USA 432, 1962. ISBN: 978-0070258860
  12. Krasnov M.L. Obyknovennye differencial’nye uravnenija. Vysshaja Shkola. USSR 128, 1983 (in Russian).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2. Supplement
Download (150KB)

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».