Информация об авторе

Vainer, Yu. A.

Выпуск Раздел Название Файл
Том 53, № 14 (2019) Nanostructures Characterization Matched X-Ray Reflectometry and Diffractometry of Super-Multiperiod Heterostructures Grown by Molecular Beam Epitaxy

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах