Автор туралы ақпарат

Abdullah, Yusof

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 51, № 12 (2017) Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures The effects of electron irradiation and thermal dependence measurements on 4H-SiC Schottky diode

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>