Автор туралы ақпарат
Tiginyanu, I. M.
Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
Том 52, № 16 (2018) | 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION | Polarized Retroreflection from Nanoporous III–V Semiconductors |