An Integrated High-Capacitance Varicap Based on Porous Silicon


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The potential for use of porous silicon in designing varicaps with high capacitance ratios satisfying the requirements of microelectronics and microsystems engineering is considered. The technique for the fabrication of capacitor structures via the electrodeposition of copper onto porous silicon is presented. The morphological features of the obtained structures are examined and the specific capacitance of varicaps is determined. The prospects for the application of varicaps based on porous silicon in integrated electronics are outlined.

Об авторах

S. Timoshenkov

National Research University of Electronic Technology

Автор, ответственный за переписку.
Email: spt@miee.ru
Россия, Moscow, 124498

A. Boyko

National Research University of Electronic Technology

Email: spt@miee.ru
Россия, Moscow, 124498

D. Gaev

Berbekov Kabardino-Balkarian State University

Email: spt@miee.ru
Россия, Nalchik, 360004

R. Kalmykov

Berbekov Kabardino-Balkarian State University

Email: spt@miee.ru
Россия, Nalchik, 360004


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах