An Integrated High-Capacitance Varicap Based on Porous Silicon


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The potential for use of porous silicon in designing varicaps with high capacitance ratios satisfying the requirements of microelectronics and microsystems engineering is considered. The technique for the fabrication of capacitor structures via the electrodeposition of copper onto porous silicon is presented. The morphological features of the obtained structures are examined and the specific capacitance of varicaps is determined. The prospects for the application of varicaps based on porous silicon in integrated electronics are outlined.

Авторлар туралы

S. Timoshenkov

National Research University of Electronic Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: spt@miee.ru
Ресей, Moscow, 124498

A. Boyko

National Research University of Electronic Technology

Email: spt@miee.ru
Ресей, Moscow, 124498

D. Gaev

Berbekov Kabardino-Balkarian State University

Email: spt@miee.ru
Ресей, Nalchik, 360004

R. Kalmykov

Berbekov Kabardino-Balkarian State University

Email: spt@miee.ru
Ресей, Nalchik, 360004


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>