Поиск

Выпуск
Название
Авторы
On the thermal oxidation of VxOy–InP heterostructures formed by the centrifugation of vanadium(V) oxide gel
Sladkopevtsev B., Tomina E., Mittova I., Dontsov A., Pelipenko D.
Study of multilayer carbon nanotubes subjected to the impact of a nanosecond high-energy ion beam
Bolotov V., Knyazev E., Sten’kin Y., Ivlev K.
Scanning Probe Microscopy of Magnetorheological Elastomers
Valiev K., Minaev A., Stepanov G., Karnet Y., Yumashev O.
Modification of Zinc-Implanted Silicon by Swift Xenon Ion Irradiation
Privezentsev V., Skuratov V., Kulikauskas V., Makunin A., Ksenich S., Steinman E., Tereshchenko A., Goryachev A.
Investigation of the surface of antifriction Al–Cu–Si–Sn–Pb aluminum alloys
Stolyarova O., Muravyeva T., Zagorskiy D., Gubenko M.
On the structural features of influenza A nucleoprotein particles from small-angle X-ray scattering data
Egorov V., Shaldzhyan A., Gorshkov A., Zabrodskaya Y., Lebedev D., Kuklin A., Ksenofontova O., Shvetsov A., Vasin A., Tsybalova L., Isaev-Ivanov V.
Influence of the Substrate Type on the Surface Morphology of Cu2ZnSnSe4 Thin Films
Baraishuk S., Tkachenko T., Stanchik A., Gremenok V., Bashkirov S., Wiertel M., Budzynski M., Turovets A., Yakovenko Y.
Atоmiс Force Microscopy of Graphene-Like Films Deposited onto Preirradiated SiO2/Si
Sedlovets D., Knyazev M., Trofimov O.
Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation
Sybina Y., Borgardt N., Lazarenko P., Parsegova V., Prikhodko A., Sherchenkov A.
Analysis of the Structure and Composition of Fe2O3 Oxides Subjected to Magnetic Pulse Treatment
Virus A., Shipko M., Stepovich M., Kaminskaya T., Korovushkin V., Tikhonov A., Savchenko E.
Influence of annealing temperature and its atmosphere on the properties of zinc implanted silicon
Privezentsev V., Kulikauskas V., Zatekin V., Shcherbachev K., Tabachkova N., Eidelman K., Ksenich S., Batrakov A.
Investigation of the local characteristics of amorphous electrical steel
Virus A., Kaminskaya T., Stepovich M., Korovushkin V., Shipko M., Tikhonov A., Popov V.
Electron and probe microscopy investigation of the surface of elastomers modified with antifriction fillers
Stolyarova O., Muravyeva T., Gainutdinov R., Morozov A., Zagorskiy D., Petrova N., Portnyagina V.
Effect of the Surface of Medical Titanium Endoprostheses on the Efficiency of Fibrointegration
Shaikhaliyev A., Polisan A., Ivanov S., Parkhomenko Y., Malinkovich M., Yarygin K., Arazashvili L.
Microstructured Substrates for Counting Bacteria Formed by Ion Implantation Through a Mask
Evtyugin V., Rogov A., Valeeva L., Salnikov V., Osin Y., Valeev V., Nuzhdin V., Stepanov A.
Determination of the Thickness of Thin Films Based on Scanning Electron Microscopy and Energy Dispersive X-Ray Analysis
Sokolov S., Milovanov R., Sidorov L.
Effect of the Process Conditions for the Preparation of CoNiFeSiB Amorphous Alloys on Their Structure and Properties
Pustovalov E., Modin E., Frolov A., Kosovets A., Kondrikov N., Karpovich N., Pyachin S., Dolzhikov S., Kraynova G., Plotnikov V., Tkachev V., Fedorets A., Ilin N.
Atomic-Force Microscopy in the Study of the Tribological Characteristics of Thin Al−Si−N Coatings
Kuznetsova T., Zubar T., Lapitskaya V., Sudilovskaya K., Chizhik S., Uglov V., Shimanskii V., Kvasov N.
Titanium-Carbide Formation in a Liquid Hydrocarbon Medium by Femtosecond Laser Irradiation
Kochuev D., Khorkov K., Abramov D., Arakelian S., Prokoshev V.
Microstructural Effects in Electron-Microscopic Studies of Carbonate Rocks
Kuzmin V.
Study of the Microstructure, Crystallographic Structure and Thermal Stability of Al–Ti–Nb Alloys Produced by Selective Electron Beam Alloying
Valkov S., Neov D., Bezdushnyi R., Beskrovnyi A., Kozlenko D., Petrov P.
Evolution of surface morphology during the growth of amorphous and polycrystalline silicon films
Novak A., Novak V., Smirnov D.
SEM identification of the amorphous state of Fe−B ribbons
Frolov A., Kraynova G., Dolzhikov S.
Investigation of the surface-potential distribution of epitaxial CdHgTe films
Novikov V., Grigoryev D., Voitsekhovskii A., Dvoretsky S., Mikhailov N.
Investigation of secondary-emission signal formation in the low-voltage SEM mode
Kazmiruk V., Kurganov I., Osipov N., Podkopaev A., Savitskaya T.
1 - 25 из 96 результатов 1 2 3 4 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».