Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Том 13, № 2 (2019)
Simulation of the Properties of Betavoltaic Cells Based on Silicon and 63Ni Enriched Film
Polikarpov M., Yakimov E.
PDF
(Eng)
Том 12, № 4 (2018)
Concept of Small-Angle Diffractometer in Classical Configuration at the Cold Moderator of the IBR-2 Reactor
Avdeev M., Eremin R., Bodnarchuk V., Gapon I., Petrenko V., Erhan R., Churakov A., Kozlenko D.
PDF
(Eng)
Том 11, № 4 (2017)
On the construction of a bias potential for atomic system simulation by the hyperdynamics method
Duda E., Kornich G.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Simulation of ferromagnetic resonance in a rectangular microstrip
Gorev R., Mironov V., Skorohodov E.
PDF
(Eng)
Том 13, № 1 (2019)
Blaze of Multilayer Diffraction Gratings in the Soft X-Ray Range: Growth Design Taking into Account the Deformation of Groove Profiles
Goray L., Lubov M.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Simulation of Redeposited Silicon Sputtering under Focused Ion Beam Irradiation
Borgardt N., Volkov R., Rumyantsev A.
PDF
(Eng)
Том 11, № 4 (2017)
Molecular dynamics simulation of the penetration of silicon by hypersonic waves generated in native silicon oxide under irradiation
Stepanov A., Tetelbaum D.
PDF
(Eng)
Том 10, № 2 (2016)
Estimation of the SEM beam diameter by video-signal curves from a trapezoidal structure: 1. Simulation experiment
Larionov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 6 (2019)
Analysis of the Results of Silicon Sputtering Simulation as Functions of Different Ar–Si Potentials
Sycheva A., Voronina E., Palov A.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Cold Metal Transfer (CMT) Based Wire and Arc Additive Manufacture (WAAM) System
Xizhang Chen , Su C., Wang Y., Siddiquee A., Sergey K., Jayalakshmi S., Singh R.
PDF
(Eng)
Том 12, № 3 (2018)
Mechanism of the Interaction between F Atoms and SiCF3 Groups on the Low-κ Dielectric Surface
Voronina E., Mankelevich Y., Rakhimova T.
PDF
(Eng)
Том 11, № 1 (2017)
Quantum chemical simulations of titanium dioxide nanotubes used for photocatalytic water splitting
Lisovski O., Piskunov S., Zhukovskii Y., Bocharov D.
PDF
(Eng)
Том 10, № 1 (2016)
Virtual measuring instruments
Novikov Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 5 (2019)
Determination of the Thickness of Thin Films Based on Scanning Electron Microscopy and Energy Dispersive X-Ray Analysis
Sokolov S., Milovanov R., Sidorov L.
PDF
(Eng)
Том 12, № 6 (2018)
Molecular Dynamics Simulation of Physical Sputtering of Nanoporous Silicon-Based Materials with Low Energy Argon
Sycheva A., Voronina E., Rakhimova T.
PDF
(Eng)
Том 12, № 2 (2018)
Behavior of the Melt in the Vertical Bridgman Method with a Low Axial Temperature Gradient
Kozhemyakin G., Artemyev V., Strelov V., Sidorov V., Korobeynikova E.
PDF
(Eng)
Том 10, № 5 (2016)
Mathematical model of the supersonic heterogeneous flow incident on a flat obstacle
Nikitin P., Borisov S., Dobrovolskiy S., Glukhovskaya Y.
PDF
(Eng)
Том 13, № 4 (2019)
On the Combination of Methods of Temperature-Accelerated Dynamics and Hyperdynamics
Duda E., Kornich G.
PDF
(Eng)
Том 12, № 5 (2018)
Estimation of the Maximum Nonequilibrium Charge-Carrier Concentration in GaN Under Electron-Beam Irradiation
Yakimov E.
PDF
(Eng)
Том 12, № 1 (2018)
Heat Transfer and Thermocapillary Convection during the Laser Deposition of Metal Powders Implemented in Additive Technologies
Dubrov A., Mirzade F., Dubrov V., Panchenko V.
PDF
(Eng)
Том 10, № 4 (2016)
Kinetics of the formation of pores and a change in the properties of materials in numerical models
Zmievskaya G., Bondareva A.
PDF
(Eng)
Том 13, № 3 (2019)
A Comment on the Computer Simulation Program SRIM
Shulga V.
PDF
(Eng)
Том 12, № 5 (2018)
Numerical Method for Determining the Real Contact Area of Contacting Bodies
Ezhov A., Bykov L., Mesnyankin S.
PDF
(Eng)
Том 12, № 1 (2018)
Simulation of Neutron Reflection from the Surface of a Nanostructured Object in the Modified Kinematic Approximation
Belushkin A., Manoshin S.
PDF
(Eng)
Том 10, № 4 (2016)
Modification of the titanium film–aluminum substrate system by a high-intensity pulsed electron beam with a submillisecond duration
Ivanov Y., Koval N., Petrikova E., Krysina O., Ivanova O., Ikonnikova I., Teresov A., Shugurov V.
PDF
(Eng)
1 - 25 из 33 результатов 1 2 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».