Microstructuring of the Surface of High-Resistivity Single-Crystalline Silicon by Chemical Etching


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The influence of various etching processes on the single-crystalline (100) silicon surface is studied. It is demonstrated that microstructuring of the surface of high-resistivity single-crystalline silicon in alkaline solutions is better performed using electrolytic methods at temperatures no lower than 80°C. Etch patterns with better-defined side faces are formed by anisotropic etching with the addition of hydrogen peroxide.

Авторлар туралы

A. Kashuba

AO NPO Orion

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: orion_kashuba@mail.ru
Ресей, Moscow, 111538

E. Permikina

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Ресей, Moscow, 111538

S. Golovin

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Ресей, Moscow, 111538

M. Lakmanova

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Ресей, Moscow, 111538

A. Pogozheva

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Ресей, Moscow, 111538

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019