Microstructuring of the Surface of High-Resistivity Single-Crystalline Silicon by Chemical Etching


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The influence of various etching processes on the single-crystalline (100) silicon surface is studied. It is demonstrated that microstructuring of the surface of high-resistivity single-crystalline silicon in alkaline solutions is better performed using electrolytic methods at temperatures no lower than 80°C. Etch patterns with better-defined side faces are formed by anisotropic etching with the addition of hydrogen peroxide.

Об авторах

A. Kashuba

AO NPO Orion

Автор, ответственный за переписку.
Email: orion_kashuba@mail.ru
Россия, Moscow, 111538

E. Permikina

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Россия, Moscow, 111538

S. Golovin

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Россия, Moscow, 111538

M. Lakmanova

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Россия, Moscow, 111538

A. Pogozheva

AO NPO Orion

Email: orion_kashuba@mail.ru
Россия, Moscow, 111538

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).