Technical Physics
ISSN 1063-7842 (Print)
ISSN 1090-6525 (Online)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Архив
Контакты
Все журналы
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
×
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
Barrier Discharge
Circular Polarization
Coherent Scattering Region
Differential Scanning Calorimetry
Electric Discharge
Electric Field Strength
Electron Diffraction Pattern
Excited Mode
External Electric Field
Ferrite
Inelastic Energy Loss
Ionization Cross Section
Magnetron Discharge
Martensite
Percolation Threshold
Plasma Channel
Spend Nuclear Fuel
Surface Relief
Technical Physic
Thermal Conductivity
Transmission Coefficient
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
Главная
>
Поиск
>
Информация об авторе
Информация об авторе
Umirzakov, B.
Выпуск
Раздел
Название
Файл
Том 61, № 4 (2016)
Short Communications
Composition, morphology, and electronic structure of the nanophases created on the SiO
2
Surface by Ar
+
ion bombardment
Том 61, № 6 (2016)
Short Communications
Transmission of electromagnetic waves through thin Cu films
Том 62, № 12 (2017)
Physics of Nanostructures
Composition and Structure of Ga
1 –
x
Na
x
As Nanolayers Produced near the GaAs Surface by Na
+
Implantation
Том 63, № 12 (2018)
Solid State Electronics
Structure and Properties of a Bilayer Nanodimensional CoSi
2
/Si/CoSi
2
/Si System Obtained by Ion Implantation
Том 64, № 2 (2019)
Solid State Electronics
The Morphology and Electronic Properties of Si Nanoscale Structures on a CaF
2
Surface
Том 64, № 5 (2019)
Physical Electronics
Electronic and Optical Properties of NiSi
2
/Si Nanofilms
Том 64, № 6 (2019)
Physics of Nanostructures
Formation of Nanodimensional SiO
2
Films on the Surface of a Free Si/Cu Film System by
\({\text{O}}_{2}^{ + }\)
Ion Implantation
Том 64, № 7 (2019)
Physical Electronics
Escape Depth of Secondary and Photoelectrons from CdTe Films with a Ba Film
Том 64, № 10 (2019)
Solid State Electronics
Electronic and Optical Properties of GaAlAs/GaAs Thin Films
Том 64, № 10 (2019)
Electrophysics
Variation of the Crystal Structure on Si(111) Surface Induced by Ion Bombardment and Subsequent Annealing
Том 64, № 10 (2019)
Physical Electronics
Emissivity of Laser-Activated Pd–Ba Alloy
Данный сайт использует cookie-файлы
Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.
О куки-файлах
TOP