Surface and Thin Films

Выпуск Название Файл
Том 63, № 4 (2018) Structural Features of PLZT Films PDF
(Eng)
Zhigalina O., Khmelenin D., Valieva Y., Kolosov V., Bokuniaeva A., Kuznetsov G., Vorotilov K., Sigov A.
Том 63, № 4 (2018) Electro-Optic Hysteresis in Ferroelectric Polymer Langmuir–Blodgett Films PDF
(Eng)
Ivanov N., Verkhovskaya K., Yudin S.
Том 63, № 4 (2018) Growth of Bicrystal Films of YBa2Cu3O7 High-Temperature Superconductor, with CuO Planes Tilted by up to 90°, on SrTiO3 Crystals PDF
(Eng)
Stepantsov E.
Том 63, № 3 (2018) Structure of Sodium Cholate Micelles PDF
(Eng)
Maslova V., Kiselev M.
Том 63, № 2 (2018) Studying the Molecular Mechanisms of Interaction of Nanoaerosol Particles with a Model Membrane PDF
(Eng)
Novikova N., Yakunin S., Morozov V., Shlyapnikova E., Kanev I., Shlyapnikov Y., Stepina N., Rogachev A., Koval’chuk M.
Том 63, № 2 (2018) Manifestation of the Sapphire Crystal Structure in the Surface Nanopattern and Its Application in the Nitride Film Growth PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kanevsky V., Deryabin A., Vovk E., Babaev V.
Том 63, № 2 (2018) Electron Energy-Loss Spectroscopy Study of the Change in the Free-Electron Density in Thin Superconducting NbN Films under Ion-Beam Irradiation PDF
(Eng)
Gurovich B., Komarov D., Kutuzov L., Prikhodko K., Dementyeva M.
Том 63, № 1 (2018) Electro-Optic Effect in Thin Films of a Dielectric and a Ferroelectric with Subwavelength Aluminum Grating PDF
(Eng)
Blinov L., Lazarev V., Yudin S., Artemov V., Palto S., Gorkunov M.
Том 62, № 6 (2017) Ga2O3–In2O3 thin films on sapphire substrates: Synthesis and ultraviolet photoconductivity PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kolymagin A., Nabatov B., Kanevsky V.
Том 62, № 6 (2017) Epitaxial low-temperature growth of In0.5Ga0.5As films on GaAs(100) and GaAs(111)A substrates using a metamorphic buffer PDF
(Eng)
Galiev G., Trunkin I., Klimov E., Klochkov A., Vasiliev A., Imamov R., Pushkarev S., Maltsev P.
Том 62, № 6 (2017) Study of magnetic metal periodic structures by X-Ray and electron microscopy methods PDF
(Eng)
Prutskov G., Chesnokov Y., Vasilliev A., Likhachev I., Pashaev E., Subbotin I.
Том 62, № 3 (2017) Application of the Fourier transforms for analysis of the domain structure images of uniaxial ferroelectric PDF
(Eng)
Tolstikhina A., Belugina N., Gainutdinov R.
Том 62, № 3 (2017) Epitaxy of CdTe on sapphire substrates with titanium buffer layers PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kanevsky V., Babaev V., Alikhanov N.
Том 62, № 3 (2017) Catalytic epitaxy of ZnO whiskers via the vapor–crystal mechanism PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kanevsky V., Babaev V., Ismailov A.
Том 62, № 2 (2017) Oleophobic properties of the step-and-terrace sapphire surface PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kanevsky V.
Том 62, № 2 (2017) Photonics of 2D gold nanolayers on sapphire surface PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Nabatov B., Konovko A., Belov I., Gizetdinov R., Andreev A., Kanevsky V.
Том 62, № 2 (2017) Degradation and recovery of the external quantum efficiency of organic photovoltaic structure PDF
(Eng)
Lazarev V., Blinov L., Yudin S., Palto S.
Том 62, № 2 (2017) Study of the grazing-incidence X-ray scattering of strongly disturbed fractal surfaces PDF
(Eng)
Roshchin B., Chukhovsky F., Pavlyuk M., Opolchentsev A., Asadchikov V.
Том 62, № 2 (2017) Application of time–frequency wavelet analysis in the reflectometry of thin films PDF
(Eng)
Astaf’ev S., Shchedrin B., Yanusova L.
Том 62, № 2 (2017) Surface topography and crystal and domain structures of films of ferroelectric copolymer of vinylidene difluoride and trifluoroethylene PDF
(Eng)
Kochervinskii V., Kiselev D., Malinkovich M., Korlyukov A., Lokshin B., Volkov V., Kirakosyan G., Pavlov A.
Том 62, № 1 (2017) Scanning tunneling microscopy of the atomically smooth (001) surface of vanadium pentoxide V2O5 crystals PDF
(Eng)
Muslimov A., Butashin A., Kanevsky V.
Том 62, № 1 (2017) Growth of ultrathin twin-free b-oriented YBa2Cu3O7 – x films PDF
(Eng)
Stepantsov E., Arpaia R., Lombardi F.
Том 62, № 1 (2017) Gas-phase clusterization of zinc during magnetron sputtering PDF
(Eng)
Abduev A., Akhmedov A., Asvarov A., Alikhanov N., Emirov R., Muslimov A., Belyaev V.
Том 62, № 1 (2017) Thin-layer GaInSbAsPBi/GaSb heterostructures obtained from liquid phase in a temperature-gradient field PDF
(Eng)
Alfimova D., Lunin L., Lunina M., Pashchenko A., Chebotarev S.
Том 61, № 6 (2016) Neuromorphic elements and systems as the basis for the physical implementation of artificial intelligence technologies PDF
(Eng)
Demin V., Emelyanov A., Lapkin D., Erokhin V., Kashkarov P., Kovalchuk M.
26 - 50 из 60 результатов << < 1 2 3 > >> 

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».