Features of the Current Flow in Injection Structures Based on PbSnTe:In Films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

This paper reports a study of the current–voltage (I–V) features of the p-i-p structures based on Pb1–xSnxTe:In films with the tin content х ≈ 0.31 in which the metal–insulator transition occurs. It is shown that the photocurrent is the hole current under light interband excitation, and electron trapping is dominant. The experimental and theoretical data are compared.

Об авторах

D. Ishchenko

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Автор, ответственный за переписку.
Email: ischenkod@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

I. Neizvestnyi

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: ischenkod@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

N. Pashchin

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: ischenkod@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

V. Sherstyakova

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: ischenkod@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах