Resistive switching in mesoscopic heterostructures based on Nd2–xCexCuO4–y epitaxial films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Reversible and stable bistable resistive switching were observed in planar-type junctions Nd2–xCexCuO4–y/Nd2–xCexO1.75/Ag. It was shown that current transport in such junctions has a diode character with Schottky-like barriers in highly doped semiconductors. It was revealed that the key factor for switching is the presence of the second phase Nd2–xCexO1.75, deficient in oxygen, epitaxially germinated at the Nd2–xCexCuO4–y surface.

Об авторах

N. Tulina

Institute of Solid State Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

A. Ivanov

National Research Nuclear University (MEPhI)

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Moscow, 119991

A. Rossolenko

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

I. Shmytko

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

A. Ionov

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

R. Mozhchil’

Institute of Solid State Physics; National Research Nuclear University (MEPhI)

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432; Moscow, 119991

I. Borisenko

Institute of Microelectronics Technology and High-Purity Materials

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах