Resistive switching in mesoscopic heterostructures based on Nd2–xCexCuO4–y epitaxial films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Reversible and stable bistable resistive switching were observed in planar-type junctions Nd2–xCexCuO4–y/Nd2–xCexO1.75/Ag. It was shown that current transport in such junctions has a diode character with Schottky-like barriers in highly doped semiconductors. It was revealed that the key factor for switching is the presence of the second phase Nd2–xCexO1.75, deficient in oxygen, epitaxially germinated at the Nd2–xCexCuO4–y surface.

Авторлар туралы

N. Tulina

Institute of Solid State Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

A. Ivanov

National Research Nuclear University (MEPhI)

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Moscow, 119991

A. Rossolenko

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

I. Shmytko

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

A. Ionov

Institute of Solid State Physics

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

R. Mozhchil’

Institute of Solid State Physics; National Research Nuclear University (MEPhI)

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432; Moscow, 119991

I. Borisenko

Institute of Microelectronics Technology and High-Purity Materials

Email: tulina@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432


© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>